光無源器件測試是光無源器件生產工藝的重要組成部分，無論是測試設備的選型還是測試平臺的搭建其實都反映了器件廠商的測試理念，或者說是器件廠商對精密儀器以及精密測試的認識。不同測試設備、不同測試系統搭建方法都會對測試的精度、可靠性和可操作性產生影響。本文簡要介紹光無源器件的測試，并討論不同測試系統對精確性、可靠性和重復性的影響。
在圖一所示的測試系統中，測試光首先通過偏振控制器，然后經過回波損耗儀，回波損耗儀的輸出端相當于測試的光輸出口。這里需要強調一點，由于偏振控制器有1～2dB插入損耗，回波損耗儀約有5dB插入損耗，所以此時輸出光與直接光源輸出光相比要小6～7dB�？梢杂脙筛鶈味颂�分別接在回損儀和功率計上，采用熔接方式做測試參考，同樣可采用熔接方法將被測器件接入光路以測試器件的插損、偏振相關損耗(PDL)和回波損耗(ORL)。
該方法是很多器件生產廠商常用的，優點是非常方便，如果功率計端采用裸光纖適配器，則只需5次切纖、2次熔纖(回損采用比較法測試*)便可完成插損、回損及偏振相關損耗的測試。但是這種測試方法卻有嚴重的缺點：由于偏振控制器采用隨機掃描Poincare球面方法測試偏振相關損耗，無需做測試參考，所以系統測得的PDL實際上是偏振控制器輸出端到光功率計輸入端之間鏈路上的綜合PDL值。由于回損儀中的耦合器等無源器件以及回損儀APC的光口自身都有不小的PDL，僅APC光口PDL值就有約0.007dB，且PDL相加并不成立，所以PDL測試值系統誤差較大，測試的重復性和可靠性都不理想，所以這種方法不是值得推薦的方法。改進測試方法見圖2所示。
在圖2測試系統中，由于測試光先通過回損儀再通過偏振控制器，所以光源輸出端與偏振控制器輸入端之間的光偏振狀態不會發生大的變化，也就是說系統可測得較準確的DUT PDL值。然而問題還沒有解決，PDL是可以了，但回波損耗測試卻受到影響。我們知道，測試DUT回波損耗需要先測出測試系統本身的回光功率，然后測出系統與DUT共同的回光功率，相減得出DUT回光功率。從數學上容易理解， 系統回光功率相對越小，DUT回損值的精確度、可靠性以及動態范圍就會越好，反之則越差。在第二種系統中，系統回光功率包含了偏振控制器回光功率，所以比較大，進而限制了DUT回損測試的可靠性和動態范圍。但一般而言，只要不是測試-60dB以外的回損值，這種配置的問題還不大，因此它在回損要求不高的場合是一種還算過得去的測試方法。除了上述兩種測試方案以外，還有一種基于Mueller矩陣法的測試系統(圖3)。
這種測試系統采用基于摻鉺光纖環的可調諧激光器(EDF TLS)而并非普通外腔式激光器，這點很重要，后文還有論述，此外它還加上Mueller矩陣分析法專用的偏振控制器、回損儀和光功率計。由于采用Mueller矩陣法測試PDL時要求測試光有穩定的偏振狀態，所以可調諧光源與偏振控制器之間以及偏振控制器與回損儀之間要用硬跳線連接，這樣可以排除光纖擺動對測試的影響。用Mueller矩陣法測試PDL需要做參考，所以在一定程度上可以排除測試鏈路對PDL測試的影響，因此這個系統可以得到較高的PDL測試精度以及回損與插損精度，測試的可靠性和可操作性都很好。在該系統中每個測試單元不是獨立地工作，它們必須整合為一體，可調諧光源不停掃描，功率計不停采集數據，測試主機分析采集所得數據，最后得出IL、PDL和ORL隨波長變化的曲線。這種方法目前主要用在像DWDM器件等多通道器件測試上，是目前非常先進的測試方法。
上述三種測試方法中，筆者認為除了最后一種方法是測試DWDM多通道器件實現快速測試的最佳方案以外，其它兩種方法都不足取，原因是它們都一味強調方便，而忽略了精密測試的精確、可靠性及重復性的要求。這也是為什么很多器件廠家測試同樣的產品，今天測和明天測結果會大相徑庭的原因。解決辦法參見圖4的耦合器測試裝配方式。
利用圖4的配置可以一次得出器件的回損和方向性參數，以及器件PDL和平均IL。由于測試激光光源為偏振光源，這樣對于器件插損測試就有一個PDL值大小系統測試的不確定性，如果器件本身PDL較大會比較成問題，所以采用去偏振器進行平均損耗測試。
這種測試方法的優點是測試穩定準確，基本排除了理論或系統誤差，甚至抑制了隨機誤差，如插損采用無源去偏振器測試，缺點是需要搭建三個工位。EXFO公司資深專家、國際電聯PMD組主席Andre Girard有一句口頭禪，叫做Nothing perfect！器件測試也是這樣，是想要測試方便，但測試可靠性、重復性下降，還是想要測試可靠性與精度較高，但測試相對麻煩呢？一切都在個人取舍之間。上面是從測試工位的搭建即測試工位的拓撲關系來討論器件最佳測試，其實測試工藝中測試設備的選型占有更重要的位置。
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